Číslo dielu :
SN74ABTH182652APM
Výrobca :
Texas Instruments
popis :
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Typ logiky :
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Napájacie napätie :
4.5V ~ 5.5V
Prevádzková teplota :
-40°C ~ 85°C
Typ montáže :
Surface Mount
Dodávateľský balík zariadení :
64-LQFP (10x10)