Číslo dielu :
8V182512IDGGREP
Výrobca :
Texas Instruments
popis :
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Typ logiky :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Napájacie napätie :
2.7V ~ 3.6V
Prevádzková teplota :
-40°C ~ 85°C
Typ montáže :
Surface Mount
Balík / Prípad :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Dodávateľský balík zariadení :
64-TSSOP