| obraz | KĽÚČ Časť # / Výrobca | Popis / PDF | Množstvo / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Texas Instruments |
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA. |
6635ks skladom |
 |
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6627ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6618ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6610ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6603ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP. |
6594ks skladom |
 |
Maxim Integrated |
IC DCL QUAD 300MHZ ATE 80TQFP. |
1948ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP. |
6577ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP. |
6570ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP. |
6561ks skladom |
 |
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO. |
6553ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO. |
6544ks skladom |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP. |
6537ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP. |
6529ks skladom |
 |
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC. |
6520ks skladom |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC. |
6512ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC. |
6505ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC. |
6496ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP. |
10587ks skladom |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP. |
6480ks skladom |
Klasifikačné stránky
- Logika - špeciálna logika - strana18
- Logika - špeciálna logika - strana19
- Logika - špeciálna logika - strana20
- Logika - špeciálna logika - strana21
- Logika - špeciálna logika - strana22
- Logika - špeciálna logika - strana23
- Logika - špeciálna logika - strana24
- Logika - špeciálna logika - strana25
- Logika - špeciálna logika - strana26
- Logika - špeciálna logika - strana27
success